SuperViewW白光干涉3D表面形貌測量儀基于白光干涉原理,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。
SuperViewW納米級白光3d表面輪廓檢測儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
SuperViewW系列白光干涉儀三維表面測量系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。
SuperViewW白光干涉三維表面測量儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。
SuperViewW非接觸式3D白光干涉儀基于白光干涉原理,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。
SuperViewW白光干涉3D材料表面輪廓儀采用白光干涉技術(shù),結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法,真實(shí)還原樣品的每一個(gè)細(xì)節(jié)。可以通過重建后的樣品表面3D圖像觀察表面形貌,樣品表面形貌展示得更加清晰,圖像更大,觀察更加方便。
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