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納米級白光干涉儀

簡要描述:中圖儀器SuperViewW1納米級白光干涉儀是一款專用于超精密加工領(lǐng)域的光學(xué)檢測儀器,主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。

  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-08-11
  • 訪  問  量:520

詳細(xì)介紹

品牌中圖儀器產(chǎn)地國產(chǎn)
加工定制

中圖儀器SuperViewW1納米級白光干涉儀是一款專用于超精密加工領(lǐng)域的光學(xué)檢測儀器,主要用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。

納米級白光干涉儀

它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量。


產(chǎn)品功能

(1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

(2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能;

(3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;

(4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

(5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

(6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

納米級白光干涉儀

應(yīng)用領(lǐng)域

對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。

應(yīng)用范例:

納米級白光干涉儀


在光學(xué)行業(yè)中的應(yīng)用

光學(xué)器件,例如各種光學(xué)鏡片和玻璃,屬于超精密加工的產(chǎn)物,因此其表面質(zhì)量等級都非常高,接觸式輪廓儀會劃傷表面,而且由于其高透明度,一般的非接觸式光學(xué)影像方法也束手無策,而中圖儀器利用光學(xué)干涉原理研制而成的SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀,能解決這兩個難題,為光學(xué)鏡片和玻璃的表面質(zhì)量檢測提供了標(biāo)準(zhǔn)解決方案。

納米級白光干涉儀

光學(xué)透鏡檢測

納米級白光干涉儀

藍(lán)寶石玻璃檢測

納米級白光干涉儀

玻璃屏檢測

納米級白光干涉儀

玻璃表面臺階檢測


SuperViewW1納米級白光干涉儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。


部分技術(shù)指標(biāo)

型號

W1

光源白光LED
影像系統(tǒng)1024×1024
干涉物鏡

標(biāo)配:10×

選配:2.5×、5×、20×、50×、100×

光學(xué)ZOOM

標(biāo)配:0.5×

選配:0.375×、0.75×、1×

標(biāo)準(zhǔn)視場0.98×0.98㎜(10×物鏡,光學(xué)ZOOM 0.5×)


XY位移平臺

尺寸
320×200㎜
移動范圍140×100㎜
負(fù)載10kg
控制方式電動
Z軸聚焦行程100㎜
控制方式電動
臺階測量
可測樣品反射率0.05%~100%
主機(jī)尺寸700×606×920㎜
懇請注意:因市場發(fā)展和產(chǎn)品開發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會根據(jù)實(shí)際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

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