簡要描述:中圖儀器SJ5800系列軸承粗糙度輪廓儀一體機具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍,分辨率達到0.1nm,因此非常適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測量,同時具備專業(yè)的球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能,能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測量需求。
詳細介紹
品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 否 |
在機械工程領域中,精密軸承滾道和滾動組件的圓度和波紋度、粗糙度對軸承的運行性能和噪音特性至關重要。這類零件的表面通常具有較大的曲度,對其進行測量,不僅要求能夠測出零件的表面粗糙度,而且還要求能夠測出零件的表面輪廓。
中圖儀器SJ5800系列軸承粗糙度輪廓儀一體機具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍,分辨率達到0.1nm,因此非常適合測量大曲面高精密零部件的輪廓參數(shù)測量,同時具備專業(yè)的球面、弧面、非球面輪廓參數(shù)評價功能,能夠滿足各種高精密輪廓粗糙度加工行業(yè)的測量需求。
該儀器同時可廣泛應用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業(yè)。該儀器可以對零件表面的輪廓度、波紋度、粗糙度實現(xiàn)一次掃描測量,尤其是大范圍曲面、斜面進行粗糙度檢測,如圓弧面和球面、異型曲面進行多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)的測量。同時儀器還可對各種精密零件輪廓度、波紋度進行測量,對形狀參數(shù)進行分析。是大曲面測量(軸承、人工關節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、光學鏡片)領域精細粗糙度測量的利器。
1、一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數(shù)
超高精度衍射光學測量系統(tǒng),具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,分辨率高達0.1nm,系統(tǒng)殘差小于2nm。
2、高精度、高穩(wěn)定性、高重復性:滿足被測件測量精度要求
1)系統(tǒng)掃描軸采用特殊的超高耐磨材質復合材質摩擦片,耐磨性能優(yōu)良,穩(wěn)定性高,能保障系統(tǒng)長時間的穩(wěn)定的直線度精度;
2)高精度轉軸采用特殊的高剛性、低慣量、超低摩擦系數(shù)的紅寶石轉軸系統(tǒng),確保了轉動的超高靈敏度及測量精度;
3)超高穩(wěn)定的驅動設計,確保了驅動運行過程中不產(chǎn)生任何的振動及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運動精度;
4)高精度的納米級光學轉軸測量系統(tǒng),保障了儀器超高的分辨率及全程納米級粗糙度測量精度;
5)一體式拔插式碳纖維測桿、高剛性、低慣量,一鍵拔插,特殊設計的高剛性拔插結構,無需鎖螺釘,方便快捷、穩(wěn)定可靠;
3、智能化管理與先進軟件分析系統(tǒng)
儀器操作界面友好,操作者易掌握儀器基本操作,使用十分簡便。
1)10多年積累的實用檢測軟件設計經(jīng)驗,向客戶提供簡潔、實用、快速的操作體驗;
2)智能化分析及記錄,同批次可自動測量和分析,大幅度減少人員的操作要求及降低人員的勞動強度;
3)測量范圍廣,可滿足絕大多數(shù)類型的工件粗糙度輪廓測量要求;
4)非球面專用軟件分析功能模塊,一鍵式快速測量非球面光學鏡片;
5)可自動和手動選取被測段進行評定,可依據(jù)客戶要求進行軟件功能的定制;
6)純中文操作軟件系統(tǒng),更好的為國內用戶服務;
7)可打印各種格式的檢定報告,自動顯示、打印、保存、查詢測量記錄,打印格式正規(guī)、美觀;檢定數(shù)據(jù)可存檔,或集中打印,不占用檢定操作時間;
8)本儀器采用計算機大容量數(shù)據(jù)庫儲存,可自動記錄保存所有檢定結果。
4、智能保護系統(tǒng)
儀器在各個方向都有進行硬件及軟件保護,能有效的保護儀器主機及測針,降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷;
模塊測針拔插式結構,方便更換,遇到卡針可輕松拆換測針;測量傳感器帶舵機結構,可防止掃描陡坡時的快速下墜。
5、靈活手動控制:
儀器配置了特殊分離式操作桿,操作桿在儀器操作移動時,可放置在任何位置控制操作,在測量工件前對測針進行粗定位;在脫離電腦的情況下,操作桿具備左右/上下移動測針、急停、測桿上下角度擺動及速度分多級調節(jié)功能。
6、成熟的標定校準技術
儀器配置特殊的高精度標定臺,通過簡單的標定操作,能對儀器的參數(shù)進行誤差補償,對測針針尖磨損進行修正補償,使其滿足高精度輪廓測量。
用于圓錐滾子軸承表面微觀輪廓Pt及粗糙度測量
SJ5800系列軸承粗糙度輪廓儀一體機集成表面粗糙度和輪廓測量,是一款高精度測量儀器。采用超高精度納米衍射光學測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統(tǒng)、高穩(wěn)定性氣浮隔振系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術,實現(xiàn)對球面及非球面光學元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。
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